压差检漏仪-NAKK测试仪-压差检漏仪NLT-370

多测试系统

WL15VWI

四个同时测定GBT，压差检漏仪， MOSFET，压差检漏仪NLT-360， SBD， FRD， IPM， IPD， Chip

2000 V / 30 A

四个同时测量方法例

+ 2000 V±20毫安

±128 V±5 A

±60 V±30 A

±64 V±160毫安

32个同时测量可能

高真空度而言，高温低温开始到业界水平，NLT-330压差检漏仪，5 kv高耐压泄漏试验。

次世代ー半导体材料的SiC /氮化也对应

WL25MV

8万台（AC / DC / DC））

数据集中管理、控制（多产品Window）

稳定生产环境提供

过电流保护功能，动态特性试验中的设备破坏

可变平衡气缸NBC-80，压差检漏仪NLT-370，NBC-100；校准器NT-120；泄漏计NLG-100；排气装置NEU-100

可变平衡气缸NBC-80/NBC-100

特点：作为检漏仪主控（参考体积），它可以处理多种工作体积。

体积：

NBC-80：0-125ml / 0-250ml / 0-500ml

NBC-100：0-950ml / 0-1950ml / 0-3000ml

校准器体积变化公式NT-120

特点：请用它来检查检漏仪的灵敏度。

体积变化：0~1cc

管道连接直径：RC(PT)1/8

体积范围：0～1mL

温度范围：0～50℃

试验压力：0～700kPa

外形尺寸：高：93毫米 宽：21毫米 深：21毫米

混合信号的LSI试验系统

WL27  WL27H

面向车载设备、电源IC、电池管理IC，各种驱动IC等

WL 27逻辑LSI力量混合型测试系统系列，多引脚化的新模型登场。车载驱动和马达驱动等A / D混合型的功率装置的同时测量适合。追求高产量、高成本性能的解决方案的混合性信号LSI测试系统。

主な仕様

Test Rate:20/40 MHz

Digital Pins:256 pins、256 PPS (WL27H)

128 pins、128 PPS (WL27)

DSP Module

AFG:16 bits/10 Msps

ADGT:16 bits/10 Msps

VFG:14 bits/240 Msps

VDGT:14 bits/80 Msps

High Power V/Iソース:±60 V/±10 A搭載可能